Chroma Model 58131 OLED 寿命周期测试系统
2016-03-21
Chroma Model 58131 OLED 寿命周期测试系统是专针对OLED寿命试验所设计的测试系统，Chroma Model 58131 OLED 寿命周期测试系统可作电气特性的量测，如正负电压、电流的供给及量测、亮度的量测及自动量测OLED亮度寿命时间，并可选购频谱分析卡，量测光学特性的功能。58131采用PRECISION SOURCE-AND-MEASURE UNITS "PMU"的量测方式，此种系统架构，在任何待测物发生短路或开路时，并不会影响其他待测物之量测或造成系统的任何损毁，每张PXI卡片可提供两组独立且精密的电压、电流输出及量测功能，仅需增加PXI卡片即可立即增加量测组数。
本系统以开放式的PXI架构为硬体基础，可任意扩充测试组数，PXI系统具有先进的 "Hot plug ＆ play"功能，即当测试中的某一待测物发生短路或故障时，仅需移除发生故障之待测物，不影响其他测试中之待测物，系统仍可持续测试，此功能将是PXI架构之最大优点，可大量提升测试效能。
人性化的软体介面，可自行设计电源输出模式、电源参数值、量测时间、亮度校正等项目，并有曲线绘图、资料表显示及储存，让您可轻松分析测试报告。另外，测试治具的设计，便利的19吋机架，可随意移动测试环境，精密轻巧的测试盒，可轻松替换待测物，电脑主机及荧幕组装于机架上，以随时了解测试状况，18个插槽的PXI机箱，可同时检测34组待测物，让你拥有体积最小，待测模组最多的超迷你测试系统。
58131 PXI OLED Lifetime Test System 为精巧型的测试系统，提供了最好的量测能力，并采用 "PMU"量测方式，及易于操作的人性化介面，为最佳的OLED 寿命周期测试解决方案。
硬体架构 li>8/14/18槽PXI机箱 li>52941 533MHz/ 52942 800MHz嵌入式控制器 li>52951 电源量测卡 li>选购19"机架 li>选购 LCD Monitor li>选购滑鼠及键盘
软体操作介面 测试系统提供了Window操作介面，便利的架构可轻易控制电气及亮度测试 li>选择多种电源输出模式 li>测试中可显示曲线图及资料表 li>同时监控34组待测物 li>具有亮度校正功能 li>亮度达到LIFE TIME时，自动停止测试
客制化的测试治具 li>每个机箱配合 34 组 OLED 测试治具 li>客制化的测试治具，搭配不同待测物，让操作更加便利。z6尊龙凯时·(中国)官方网站作为台湾Chroma公司湖南区域的总代理，以下为z6尊龙凯时·(中国)官方网站为您简单介绍Chroma Model 58131 OLED 寿命周期测试系统的技术参数及产品特点，如果您想对Chroma Model 58131 OLED 寿命周期测试系统有更多的了解，欢迎致电z6尊龙凯时·(中国)官方网站，联系电话：0731-84284278 84284378。更多产品信息欢迎点击：1000qsw.com。z6尊龙凯时·(中国)官方网站。
Chroma Model 58131 OLED 寿命周期测试系统主要特色：
独立且精密的量测方式(PMU)
提供高精确度的电压及电流
高精确度的量测能力
单一待测物故障自我控制，不影响其他测试中的待测物
测试功能
电气特性量测
亮度量测
自行设计输出模式(正负电压及电流)
自动测试及资料载入
PXI机箱含嵌入式控制器
OLED测试卡 (一张PXI卡可测试两个OLED面板)
每个系统最大可提供34组待测物
选购配备
频谱分析量测光学特性
Turnkey 测试解决方案
客制化的测试治具(可接受不同尺寸的OLED面板)
部分机架可置入滑动抽屉(每个抽屉有四组治具)
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